2026.03.30 お知らせ

【お知らせ】走査電子顕微鏡（SEM）を更新しました

当社ホームページをご覧いただき、ありがとうございます。
このたび当社研究所のSEMを分析・評価技術強化のため日本電子株式会社製 走査電子顕微鏡 JCM-7000 NeoScope™ に更新いたしました。
JCM-7000 NeoScope™ は、高分解能での観察が可能な卓上型SEMであり、材料表面の微細構造や加工状態を、これまで以上に高い精度で可視化できます。
これにより、材料開発・評価の迅速化、および分析精度の向上が図られるとともに、スリット加工やプラズマ処理などの受託加工においても、加工条件の最適化や不具合要因の早期把握が可能となります。
今後も技術の向上および品質強化を通じて、お客様へより高付加価値な製品とサービスを提供してまいります。

スリットとプラズマ加工のリーディングカンパニー河村産業