HOME 〉 研究開発 〉 分析技術

分析技術

走査型電子顕微鏡(SEM-EDX)、蛍光X線分析装置、原子間力顕微鏡(AFM)、各種熱分析装置(DSC、TG-DTA、TMA)などにより、材料設計や評価に必要な各種分析・解析を行います。

分析装置

走査型電子顕微鏡(SEM-EDX)

走査型電子顕微鏡(SEM-EDX)

材料表面や微細物の観察や、元素分析を行います。

蛍光X線分析装置(XRF)

蛍光X線分析装置(XRF)

金属など無機材料の元素分析や膜厚の測定を行います。

原子間力顕微鏡(AFM)

原子間力顕微鏡(AFM)

材料の表面形状をナノスケールで測定することができます。

熱分析装置

熱分析装置

示差走査熱量計(DSC)、熱重量示差熱分析装置(TG-DTA)、熱機械分析装置(TMA)などの熱分析装置により、材料のガラス転移温度、融点、発熱・吸熱量、熱重量減少温度、熱膨張係数などを測定することができます。